外文名Potassium hydroxide
别 名 苛性钾
化学式 KOH
分子量 56.1056
CAS登录号 1310-58-3
EINECS登录号 215-181-3
熔 点 360 ℃
沸 点 1324 ℃
水溶性 易溶
密 度2.044 g/cm³
外 观 白色粉末或片状固体
应 用 干燥、电镀、化工原料等
在磷酸盐-氢氧化钾电解液中,利用微弧氧化技术在AM60B镁合金表面获得了氧化膜层.截面光学显微形貌与扫描电镜照片显示,该氧化膜层为一连续的整体,氧化膜与基体存在清晰的界面,界面附近无孔洞,裂纹等缺陷,而在氧化膜表面则分布着大量的微孔,并有微裂纹存在;EDS成分分析表明,膜层主要由Mg,Al元素(来自于基体)和P,O元素(来自于电解液)组成;X-射线衍射实验证明了微弧氧化处理在镁合金表面形成了一层以MgO为主要组成的氧化膜,但未检测到P的存在,由此说明P以非晶态的形成存在于膜层中.膜层截面硬度分布曲线和耐蚀性实验表明,膜层硬度随着膜层与界面距离的增加起初增大,在距离界面10μm处达到最大值为580HV,之后逐渐降低;基体与微弧氧化膜层在w(NaCl)=3.5%NaCl溶液中的极化腐蚀电流密度分别为198A/cm^2和3.54A/cm^2,说明微弧氧化膜的生成使镁舍金的耐蚀性能明显增强.
在磷酸盐-氢氧化钾电解液中,利用微弧氧化技术在AM60B镁合金表面获得了氧化膜层.截面光学显微形貌与扫描电镜照片显示,该氧化膜层为一连续的整体,氧化膜与基体存在清晰的界面,界面附近无孔洞,裂纹等缺陷,而在氧化膜表面则分布着大量的微孔,并有微裂纹存在;EDS成分分析表明,膜层主要由Mg,Al元素(来自于基体)和P,O元素(来自于电解液)组成;X-射线衍射实验证明了微弧氧化处理在镁合金表面形成了一层以MgO为主要组成的氧化膜,但未检测到P的存在,由此说明P以非晶态的形成存在于膜层中.膜层截面硬度分布曲线和耐蚀性实验表明,膜层硬度随着膜层与界面距离的增加起初增大,在距离界面10μm处达到最大值为580HV,之后逐渐降低;基体与微弧氧化膜层在w(NaCl)=3.5%NaCl溶液中的极化腐蚀电流密度分别为198A/cm^2和3.54A/cm^2,说明微弧氧化膜的生成使镁舍金的耐蚀性能明显增强.
